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Nahinfrarotkameras der A6260 Serie für Laser-Profilerfassung und Überprüfung von Silizium-Wafern

Bei der gekühlten Nahinfrarotkamera A6261 kann der Anwender Kameraeinstellungen wie die Bildrate, Integrationszeit und Fenstergrösse komplett nach seinen Wünschen und Anforderungen konfigurieren. Die A6261 wurde speziell für das IR-Kurzwellenspektrum (SWIR) im Wellenlängenbereich von 0,9 bis 1,7 µm optimiert und eignet sich dadurch besonders für Anwendungen wie die Laser-Profilerfassung und die Überprüfung von Silizium-Wafern. Ihr Sensor ermöglicht einen Verstärkungsfaktor von bis zu 75. Die A6262 verfügt mit ihrem Spektralbereich von 0,6 bis 1,7 µm. Sie erlaubt den Blick durch Glas, durch aufgetragene Farbschichten, im Lebensmittelsektor durch die oberste Schicht von Früchten (Schale) oder bei medizinischen Operationen mitunter durch Blut hindurch direkt auf das Gewebe.

 

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