Die EMV Konformität ist Voraussetzung für das Inverkehrbringen elektrischer / elektronischer Geräte. Vollständige und wiederkehrende EMV-Tests sind sehr zeitintensiv und zusammen mit den Kosten der Fehlerbehebung ungemein teuer. Auch hier gilt: „Je später, desto teurer wird es.“
Mit dem regelbasierenden Software EMI Scanner von ANSYS SIwave wird das verdrahtete Leiterplattendesign basierend auf geometrische Designregeln hin analysiert. Die Software erkennt anhand der Regelsätze die häufigsten und schwerwiegendsten Ursachen für Störungen, die zu kritischen elektromagnetischen Wechselwirkungen führen können. Expertenwissen aus dem Simulationsumfeld ist bei dieser Anwendung nicht erforderlich.
Im Webinar zeigen die Referenten die Arbeitsweise und Bedienung des regelbasierten EMI Scanners und führen eine Suszeptibilitäts-Analyse an einer komplexen Baugruppe durch. Ebenfalls werden optionale Full-Wave Analyse-Methoden vorgestellt, die Ihnen ein umfassendes Software-Paket zur effizienten Analyse und Behebung von EMV-Problemen auf Leiterplattenebene zur Verfügung stellen.
Jetzt kostenfrei anmelden (DE): 26.11.2019, 10:00 Uhr
Jetzt kostenfrei anmelden (EN): 03.12.2019, 10:00 Uhr
