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Oszilloskop zum Messen hoher Spannungen mit hoher Auflösung

Das Oszilloskop PXIe-5164 basiert auf der offenen, modularen PXI-Architektur und beinhaltet einen programmierbaren FPGA und bietet folgendes: zwei 14-Bit-Kanäle mit 1 GSample/s und 400 MHz Bandbreite, zwei Kanäle mit einem Spannungseingangsbereich von bis zu 100 Vpp CAT II und programmierbarer Offset-Funktion für Messungen bis ±250 V, bis zu 34 Kanäle in einem kompakten PXI-Chassis für parallele Messsysteme mit hoher Kanaldichte, eine Streaming-Datenrate von 3,2 GByte/s über 8 PCI-Express-Leitungen (Lanes) der 2. Generation und ein mit LabVIEW programmierbarer Kintex-7-410-FPGA von Xilinx.

Whitepaper: www.polyscope.ch/2016/ni

National Instruments Switzerland GmbH
Sonnenbergstrasse 53, 5408 Ennetbaden
Tel. 056 200 51 51, Fax 056 200 51 55
ni.switzerland@ni.comwww.ni.com/switzerland

sps/ipc/drives 2016: Halle 7, Stand 381 und 450