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Innovative RF-Testlösungen für die Anforderungen von morgen

Fünffache Bandbreite, grösserer FPGA und 33 % weniger Platzbedarf – das ist die Kurzfassung der zweiten Generation des Vektorsignal-Transceivers (VST) von National Instruments. Der PXIe-5840 hat eine Bandbreite von 1 GHz und eignet sich für anspruchsvolle Design- und Prüf- anwendungen im RF-Bereich.

 

«NI prägte 2012 die Messtechnik mit dem Vektorsignal-Transceiver VST mit LabVIEW-programmierbarem FPGA und hält die Entwicklungsgeschwindigkeit bei gleichzeitig geringeren Prüfkosten hoch», sagt Olga Yashkova, Program Manager für den Bereich Communications Test and Measurement Practice bei Frost & Sullivan. «Mit der zweiten Generation des VST zeigt NI erneut hohes Engagement im Bereich der softwaredesignten Messtechnik, indem es Anwender mit innovativen RF-Testlösungen bei der Bewältigung der komplexen und rasch wechselnden Prüfanforderungen rund um die Nachrichtentechnik unterstützt.»

Der NI PXIe-5840 bietet einen 6,5-GHz-RF-Vektorsignalgenerator, einen 6,5-GHz-Vektorsignalanalysator, einen leistungsstarken, anwenderprogrammierbaren FPGA sowie serielle und parallele Hochgeschwindigkeitsdigitalschnittstellen in einem PXI-Express-Modul, das nur zwei Steckplätze im Chassis belegt. Dank der Bandbreite von 1 GHz eignet sich der jüngste VST für unterschiedlichste Anwendungen, darunter das Testen von 802.11ac/ax- sowie Mobilfunk- und IoT-Geräten, Entwicklung und Test von 5G-Technologien, RFIC-Tests sowie die Prototypenerstellung von Radarsystemen.

Individuelle Programmierung des FPGAs

«Der VST der zweiten Generation bietet sofort einsatzbereite Funktionen für anspruchsvolle RF-Prüfanwendungen. Seine software­designte Architektur ermöglicht darüber hinaus eine individuelle Programmierung des FPGAs», ergänzt Charles Schroeder, Vice President of RF Product Marketing bei NI. «Das bedeutet, dass Anwender den VST mithilfe der intuitiven Systemdesignsoftware LabVIEW auf Firmware-Ebene genau an ihre Projektanforderungen anpassen können, um selbst komplexeste Prüf- und Messanwendungen zu bewältigen. Dieses Messgerät verbindet die für klassische Prüf- und Messanwendungen erforderliche RF-Leistung mit der Flexibilität eines Software-Defined-Radio-Systems.» Einige wichtige Produktmerkmale sind:

  • Echtzeitbandbreite von 1 GHz für anspruchsvolle Tests mit digitaler Vorverzerrung (DPD) und Breitbandsignale wie Radar, LTE-Advanced Pro und 5G
  • Messgenauigkeit für das Testen von 802.11ax-Geräten mit einer EVM-Leistung von –50 dB
  • 10-fache Geschwindigkeit klassischer Messgeräte dank FPGA-basierter Beschleunigung und optimierter Messsoftware
  • geringe Abmessungen und nahtlose Synchronisierung für bis zu 8×8-MIMO-Konfigurationen (Multiple Input, Multiple Output) in einem einzelnen Chassis mit 18 Steckplätzen
  • mit LabVIEW programmierbarer FPGA

NI-Plattform mit VST zum Erstellen von ­intelligenten Prüfsystemen

«Dank der grossen Bandbreite und der latenzarmen, softwaredesignten Architektur des VST konnten wir unsere Radarsensoren gründlich und umfassend testen. Ausserdem waren wir in der Lage, Probleme bereits frühzeitig in der Designphase zu erkennen», berichtet Niels Koch, Component Owner Radar Systems, Audi AG. «Durch die anwenderseitige Programmierung des FPGAs mit LabVIEW konnten wir mit dem VST vielfältige Prüfszenarien zügig emulieren, um so die Sicherheit und Zuverlässigkeit beim autonomen Fahren zu verbessern.»

Der VST ist integraler Bestandteil der NI-Plattform, die Anwendern das Erstellen intelligenterer Prüfsysteme ermöglicht. Die Plattform umfasst mehr als 600 PXI-Produkte – von DC bis hin zu Frequenzen im mm-Wellenbereich –, die durchsatzstarke Datenübertragungen über PCI-Express-Schnittstellen der 3. Generation unterstützen. Darüber hinaus ermöglichen sie Synchronisierungen unterhalb des Nanosekundenbereichs und bieten integrierte Timing- und Triggerfunktionen. Mithilfe der produktivitätssteigernden Funktionen der Entwicklungsumgebungen LabVIEW und der Testmanagementsoftware TestStand in Kombination mit dem dynamischen Ökosystem aus Partnern, zusätzlicher IP und Applikationsingenieuren können Anwender ihre Prüfkosten zudem weiter senken, Markteinführungszeiten verkürzen und ihre Prüfsysteme schon jetzt auf die Anforderungen von morgen vorbereiten. 

Flyer: 19_16.50.pdf

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ni.switzerland@ni.com, www.ni.com/switzerland 

sps/ipc/drives 2016: Halle 7, Stand 381 und 450