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NIDays 2015 – 24. März 2015 – Kursaal Bern : Ausgabe 07/2015, 23.04.2015

Die Herausforderungen des IoT bewältigen

National Instruments richtete Ende März zum 18. Mal den Technologie- und Anwenderkongress NIDays in der Schweiz aus. Im Kursaal in Bern konnten die Veranstalter rund 400 Teilnehmer begrüssen.

Nach der Eröffnung des Kongresses durch Christian Moser, Geschäftsführer von National Instruments Switzerland, begrüsste Robert Morton, Vice President Sales & Marketing Europe bei NI, das Auditorium. Unter dem Titel «You and NI – gemeinsam das Internet der Dinge gestalten» ging Morton auf die Chancen ein, die der plattformbasierte Ansatz des Graphical System Design von NI hier bietet.

Neue Produkte, Technologien, Trends

In einer zweiten Keynote am Nachmittag widmete Dr. Tom Bradicich, Vice President of Server Engineering bei HP, seine Keynote dem Thema Big Analog Data und gab einige visionäre Ausblicke auf zukünftige Anwendungen. Dave Wilson, Academic Marketing Director bei NI hob ausserdem die Bedeutung der Ausbildung und Lehre zukünftiger Ingenieure hervor und betonte das grosse Engagement von NI in diesem Bereich.

Bei den Produkten wurden neben der neuen Version von LabVIEW zwei weitere Softwarelösungen vorgestellt: NI InsightCM Enterprise dient der dezentralen Online-Zustandsüberwachung von Maschinen und Anlagen. Die LabVIEW Communications System Design Suite verbindet Hardware für SDR (Software Defined Radio) mit einem durchgängigen Software-Designprozess und unterstützt somit Ingenieure bei der Prototypenerstellung im Wireless-Bereich, wie beispielsweise von 5G-Systemen.

Hardwareseitig präsentierte NI die neuen Controller NI cRIO-9063 bzw. NI cRIO-9064 und das NI System on Module (SOM) für den Embedded-Bereich. Für die PXI-Plattform wurden vier neue Messgerätetypen für automatisierte Testanwendungen gezeigt, darunter der neue VSA NI PXIe-5668R für den RF-Bereich sowie das Oszilloskop NI PXIe-5171R mit 8 Kanälen. Mit dem Semiconductor Test Systems (STS) zeigte NI eine PXI-basierte Systemreihe, die die Integration von PXI-Modulen von NI und anderen Anbietern in Prüfumgebungen der Halbleiterproduktion erlaubt und so die Prüfkosten für RF- und Mixed-Signal-Geräte senkt.

Vorträge, Workshops und Tischmesse

Darüber hinaus konnten sich die Teilnehmer in über 40 Vorträgen und Workshops zu folgenden Themen informieren: Software Development, Embedded Control und Monitoring, Test & Measurement, Verification und Validation sowie Schwerpunktthemen aus den Bereichen RF-Technologie und Big Analog Data. Die gratis Prüfung zum Certified LabVIEW Associate Developer (CLAD) sowie die kongressbegleitende Fachausstellung sind von den Besuchern ebenfalls gut angenommen worden. 20 externe Aussteller stellten ihre Produkte und Dienstleistungen vor und boten den Teilnehmern da-mit eine gute Networking-Plattform. Einen Überblick über den Event findet man unter: www.ni.com/switzerland/nidays.

Gelungene Ausstellerralley

Eine gelungene Premiere gelang dem Fachmagazin Polyscope mit der Ausstellerralley. Unter dem Motto «Stempel holen – GoPro gewinnen» verloste der Verlag am Ende der Veranstaltung eine Action-Cam GoPro Hero4. Wer von den 400 Besuchern auf seiner Teilnahmekarte bei fünf Ausstellern einen Stempel abholte und seine Gewinnkarte in die Teilnahmebox steckte, nahm an der Verlosung teil. Gewonnen hat die GoPro Hero4 Martin Frauenfelder von der Swissphone Wireless AG in Samstagern. Der glückliche Testingenieur wird die Kamera für seine beiden Hobbys Pferde und den Hundesport Mantrailing einsetzen. National Instruments und Polyscope gratulieren dem Gewinner.

Infoservice


National Instruments Switzerland GmbH
Sonnenbergstrasse 53, 5408 Ennetbaden
Tel. 056 200 51 51, Fax 056 200 51 55
ni.switzerland@ni.com, www.ni.com/switzerland

Plattformbasiertes Design war das zentrale Thema auf dem sehr gut besuchten Technologie- und Anwenderkongress NIDays 2015 in Bern


Martin Frauenfelder (li) freut sich über die GoPro aus den Händen von Daniel Böhler

Quick-Link

Die Bilder zu den NIDays 2015 finden Sie unter Bildergalerien